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目前市场上已有商用偏振纠缠光源产品工作在通信波段，但这些产品缺乏权威认证或第三方检测。该研究团队致力于建立光子计数与关联测量的综合测试框架，以可扩展、可重复的方式表征光源参数。该工作将探测器配置纳入考量范围，因为元器件的非理想特性会直接影响测量结果的有效性。通过严格的概率分析方法，研究人员讨论了真实符合计数与虚假符合计数的界限——二者的比值不仅会影响符合计数测量的分辨率，还会反映在量子通信系统的量子比特误码率上。研究将对三款商用光源开展量子态层析、偏振可见度测量、时间关联测量等前沿检测，并对比计算各项统计指标。鉴于量子态层析需要大量测量数据和后处理分析，该团队重点探讨了仅通过直接测量法获得的其他统计指标来确定偏振纠缠度的可行性。