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研究人员对高纯度氟化锂(LiF)晶体进行了低温低噪声微波光谱实验。谱学数据揭示了回音壁模式中的避免能级交叉相互作用，表明存在顺磁杂质与电子自旋共振(ESR)的耦合。通过分析相互作用谱，该团队识别出三组不同的自旋系统：S=3/2、I=7/2；S=1、I=7/2以及S=3/2、I=0。根据观测到的超精细分裂数量及具有相应核自旋值离子的天然丰度，研究结果表明具有正交畸变的V2+和V3+杂质最可能是这些尖锐相互作用特征的来源。该发现与Chan和Shields(1970)早期ESR研究以及Anbinder、Zakhariya和Zhikhareva(1973)记录的LiF晶体生长制备数据相吻合。此外，另一组较宽的相互作用点与涉及S=3/2、I=0自旋系统的正交畸变模型相符，但导致该相互作用的特定杂质仍未确定。