mK温度下全双端口散射参数的测量与校准方法

该论文描述了所开发的装置及表征方法,旨在实现低温环境下完整双端口校准散射参数测量,并提供完整的测量不确定度分析。这套由意大利国家计量研究院(INRiM)开发的系统采用"短路-开路-负载-互易"技术,通过单次降温循环实现误差修正的低温测量。系统工作温度可低至毫开尔文量级,在4-12GHz频段内通过同轴线进行测量。校准标准件溯源至可追溯的室温测量数据,同时采用数值方法评估标准件从室温到低温的响应偏移,从而获取关键信息以建立完整的测量不确定度分析。此外,根据国际公认程序评估了相关测量不确定度分量,并给出了全面的不确定度预算。论文以20dB衰减器的测试测量为例,在6GHz频率下测得衰减值为20.70±0.08dB(95%置信区间)。

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