实验观察非晶态Nb2O5和Ta2O5薄膜中的短程磁相关性

研究团队利用μ子自旋旋转/弛豫/共振(μSR)技术,研究了五氧化二铌(Nb2O5)和五氧化二钽(Ta2O5)薄膜的磁学性质。在非晶态(溅射沉积)下,这两种氧化物在低至2.8 K时均表现出磁性行为。然而,磁响应强烈依赖于结构:热氧化多晶Ta2O5显示出被抑制的磁性,而非晶态Ta2O5则表现出局域静态磁性。相比之下,非晶态Nb2O5的磁性无序程度显著更高。这些结果表明,Ta和Nb原生氧化物中的磁不均匀性可能是超导器件性能的关键因素,特别是限制了量子比特和谐振器的T1时间。

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