北京量子信息科学研究院与合作者实现室温铁磁体铁镓碲的磁结构可控调制

近日,北京量子信息科学研究院(简称“量子院”)拓扑和二维材料团队利用栅压调控的固态锂离子插层技术,成功实现对室温铁磁体Fe3GaTe2磁结构的原位可控调制,发现其表现出显著的层厚依赖性。这一厚度效应的根源在于锂离子的有效插层深度约为20 nm。2026年7月3日,相关研究成果以“锂插层诱导二维Fe3GaTe2层厚依赖的磁结构转变”(Lithium-Induced Thickness-Dependent Magnetic Structure Transition in 2D Fe3GaTe2)为题,发表于《先进功能材料》(Advanced Functional Materials)。

二维磁性材料为磁电耦合与自旋电子学研究开辟了新途径,其中室温二维铁磁材料Fe3GaTe2 因具有高居里温度、强垂直磁各向异性以及可承载斯格明子自旋纹理等优异特性,被视为高密度信息存储与自旋电子器件的有力候选材料。然而,如何对其铁磁态进行精确、非易失的调控仍是制约其应用的关键瓶颈。固态锂离子插层作为调控载流子浓度与晶体结构的一种有效手段,已在FeSe、CrGeTe3等体系中催生了诸多新奇物性;理论亦预言锂插层可在薄层Fe3GeTe2中引入反铁磁层间耦合。然而,关于锂插层对Fe3GaTe2 磁性的实验调控及其背后的微观机制,此前尚属空白。

研究表明,锂离子插层能够显著改变样品的磁性状态,其有效插层深度约为20 nm。实验结果显示,该调制效应呈现出明显的厚度依赖性(图1)。对于厚度在20 nm以下的薄层样品,锂离子倾向于实现完全插层,导致其矫顽场显著下降,并伴随新型铁磁与反铁磁态的形成;而对于厚度大于20 nm的厚层样品,由于受限于插层深度,仅能实现垂直方向的部分插层,进而自组装形成“锂插层区/本征态区”的垂直异质结结构。这种新生成的垂直结构使得厚层样品的矫顽场增加,并产生交换偏置效应。例如,在60 nm厚的样品中,随着锂离子注入,其矫顽场从约0.3 T显著增加至约1 T,同时观测到最大约0.3 T的交换偏置作用。

北京量子信息科学研究院与合作者实现室温铁磁体铁镓碲的磁结构可控调制
图1 栅压可调锂插层与磁相演化。(a) 二维Fe3GaTe2的原子结构与固态锂离子导体器件示意图;(b) hBN保护的45 nm厚 Fe3GaTe2薄片的光学照片;(c) 45 nm本征薄片的变温磁滞回线测量,居里温度接近370 K;(d) 60 nm厚薄片中栅控磁相演化: 4 V注入 1 h后出现约650 Oe交换偏置,室温存放 5天后矫顽场增至约1 T、交换偏置达约0.22 T,80℃退火使交换偏置消失;(e) 12 nm薄片中锂完全渗透,翻转行为复杂化但始终无交换偏置。

Fe3GaTe2具有室温铁磁性与丰富的微观磁结构。利用磁力显微镜(MFM),研究团队在室温下原位观测了锂离子注入前后Fe3GaTe2不同厚度样品的磁畴结构演化(图2),为上述电输运结果提供了直观的微观物理图像。对于厚度为40 nm和50 nm的样品,锂离子注入后磁畴结构发生了显著改变:其中40 nm样品的多磁畴结构完全消失,转变为类似于30 nm以下薄层样品的单磁畴态;而50 nm样品的磁畴则部分消失,体现出局域性改变。此外,室温静置(离子扩散)与退火处理均能使磁畴结构产生显著变化,表明锂离子的注入及内部扩散过程对磁结构具有极强的调制作用。而对于更厚的样品,受限于锂离子的穿透深度,注入后未观测到明显的微观磁结构变化。上述MFM观测结果证实,锂离子能够显著改变薄层样品的微观磁结构,且在薄层Fe3GaTe2内部的有效插层深度约为20 nm。这一微观磁学证据与电输运测试结论高度吻合。

北京量子信息科学研究院与合作者实现室温铁磁体铁镓碲的磁结构可控调制
图2 不同厚度薄片锂插层前后的室温磁畴结构(MFM)。(a–c) 40 nm薄片经两步锂注入后磁畴壁完全消失,形成单一大磁畴,对应垂直铁磁/反铁磁(FM/AFM)异质结构的形成;(d) 锂化区域 FiM/AFM/FM 相比例可栅控的示意图;(e–h) 50 nm薄片中畴壁先在中心区域消失、随后全片密度大幅下降,反映初始锂分布不均匀;(i–l) 75 nm与 110 nm厚片磁结构无明显变化,表明锂调制的有效深度约为 20 nm。